Tarama elektron mikroskobu(SEM)

1-DENEYİN AMACI: Tarama elektron mikroskobunda görüntü elde etmek ve elde edilen görüntüleri değerlendirmek.

2-TEORİK BİLGİ: Tarama Elektron Mikroskobu veya SEM (Scanning Electron Microscope), çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlarla yüzeyin taranması prensibiyle çalış Elektron tabancası olarak nitelendirilen çeşitli şekillerde üretilmiş olan metal parçalardan termoiyonik sürüm ve alan emisyonu olarak adlandırılan iki farklı yolla elektron elde edilebilir. Sistemde kullanılan metal tel, iş fonksiyonu düşük ve ergime noktası yüksek tungsten gibi metallerden seçilir.

Kolon içerisinde bulunan elektromanyetik lensler, elde edilen elektron demetini inceltip numune yüzeyinde belli bir bölgeye odaklama görevini üstlenir. Mercekler tarafından inceltilen ve odaklanan ışın demeti, yüzeyi televizyon ekranındakine benzer bir mekanizmayla ancak daha zayıf bir şiddetle çizgisel olarak tarar.

İvmelendirilmiş elektron madde yüzeyine çarptığında elastik ve inelastik olarak saçılır. İnelastik saçılma sonucu değişik iyonizasyon olayları meydana gelir. Elektron demeti – numune etkileşimi sonucu oluşan ve algılanılabilen başlıca sinyaller;

İkincil elektronlar (SE)

·         Geri saçılan elektronlar (BSE)

·         Karakteristik X-ışınları

3-DENEYİN YAPILIŞI: Tarama elektron mikroskobunda değişik numuneler incelenerek farklı elektronlarla görüntüler elde edildi. Topografik ve metalografik olarak hazırlanmış numunelerin görüntüleri, BSE ve SE ile oluşturularak, bu görüntüler arasındaki farklar belirlendi. Görüntü kalitesine etki eden faktörleri incelemek için, ivmelendirme voltajı, çalışma yüksekliği, eğim vb. parametreler değiştirilerek elde edilen görüntüler ve görüntü bozuklukları incelendi.

ü  1.numunemiz  ferritik perlitik küresel grafitli dökme demir

ü  2. numunemiz lamel grafitli dökme demir

ü  Sinek ,tuz,saç teli,örümcek numuneler incelendi